微纳工艺
一、表面准备 (Surface Preparation)
清洗 (Cleaning)
- 去除污染物:晶圆划片灰尘、大气颗粒、光刻胶残留等
- 方法:去离子水冲洗(DI Rinse)、丙酮(Acetone)、异丙醇(IPA Rinse)
底膜涂抹 (Wafer Priming)
- 使用HMDS增强光刻胶粘附性
二、光刻工艺 (Lithography)
光刻胶涂覆 (Resist Coating)
- 旋转涂布(1000-6000rpm),厚度约1微米
- 光刻胶类型:
- 正性光刻胶:曝光后溶解
- 负性光刻胶:曝光后交联固化
- LOR光刻胶:用于lift-off工艺
曝光 (Exposure)
- 曝光剂量控制图案形成
- 分辨率:接触模式(0.7-2.5μm)、投影模式(更高分辨率)
显影 (Development)
- 正胶:溶解曝光区域
- 负胶:溶解未曝光区域
三、蚀刻工艺 (Etching)
湿法蚀刻 (Wet Etching)
- 各向同性蚀刻(如SiO2)
- 各向异性蚀刻(如KOH对Si晶体)
干法蚀刻 (Dry Etching)
- 反应离子刻蚀(RIE):结合化学和物理蚀刻
- ICP-RIE:独立控制离子密度和能量
关键参数
- 选择性 = 刻蚀深度/光刻胶损失
- 各向异性因子(RI):0为完全各向异性,1为完全各向同性
四、沉积工艺 (Deposition)
化学气相沉积(CVD)
- PECVD:低温沉积SiO2、Si3N4等
- 原子层沉积(ALD):原子级厚度控制
物理气相沉积(PVD)
- 蒸发(E-beam):高纯度但台阶覆盖率差
- 溅射(Sputtering):更好的台阶覆盖率
五、掺杂工艺 (Doping)
热扩散 (Thermal Diffusion)
- 两步过程:沉积→驱动扩散
- 菲克扩散定律描述浓度分布
离子注入 (Ion Implantation)
- 精确控制掺杂剂量和深度
- 需后续退火修复晶格损伤
六、封装工艺 (Packaging)
基本流程
- 晶圆减薄→切割→芯片粘接→键合→密封
键合技术
- 线键合(金/铝线)
- 倒装芯片键合(焊料凸点)
七、先进光刻技术
电子束光刻(EBL)
- 纳米级分辨率
- 邻近效应是主要挑战
纳米压印光刻(NIL)
- 机械压印图案
- 高分辨率(约100nm)、低成本
八、表征技术
扫描电镜(SEM)
- 表面形貌分析
- 分辨率达纳米级
原子力显微镜(AFM)
- 三维表面形貌
- 可在大气/液体环境工作
微纳工艺
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